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LCR測(cè)試儀本機(jī)種一共有七種機(jī)型，分別是20Hz~5MHz 20Hz~10MHz 20Hz~15MHz 20Hz~20MHz 20Hz~30MHz 20Hz~50MHz 20Hz~120MHz +/-0.05%準(zhǔn)確度。
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英國(guó)穩(wěn)科阻抗分析儀1J65120B，包括被動(dòng)組件設(shè)計(jì)師、電介體、絕緣體材料的研發(fā)測(cè)試人員以及生產(chǎn)線上的負(fù)責(zé)人員，本系列產(chǎn)品提供高頻的阻抗測(cè)試（可達(dá)120M Hz），應(yīng)用于對(duì)組件特性的分析。高速量測(cè)及完整的測(cè)試功能，使該系列成為強(qiáng)有力的工具USB接口能直接儲(chǔ)存曲線圖形及量測(cè)數(shù)據(jù)，大型TFT觸摸顯示屏令該產(chǎn)品更為簡(jiǎn)單易用，精細(xì)的掃描分辨率（1mHz）使共振頻率的量測(cè)而快速。
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安柏AT3817A臺(tái)式LCR測(cè)試儀采用真彩TFT-LCD顯示，全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字體顯示，讀數(shù)更加直觀。 AT3817A 采用10Hz～100kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0μA- 20.00mA，純直流信號(hào)源的DCR測(cè)量以及內(nèi)部直流偏壓±2.5V，同時(shí)可選外部偏置
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穩(wěn)科WK6500B阻抗分析儀 ●簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手 ●電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案 ●30 ms超高速測(cè)試速度 ●等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測(cè)試，量測(cè)到0.01mΩ ●0.05%基本精確度 ●可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias ●20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級(jí) ，最高升級(jí)
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穩(wěn)科LCR測(cè)試儀1J6500P是高精度的高頻元件分析儀，具有許多有用的特點(diǎn)。兩個(gè)測(cè)量參數(shù)的圖形掃描是可用的，并顯示在清晰，大，彩色顯示器。掃頻參數(shù)包括頻率、驅(qū)動(dòng)電平和直流偏置。可用的顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。具有等效電路分析功能。這允許建模和曲線擬合各種等效電路模型。
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阻抗分析儀介電及薄膜測(cè)試治具1J1020測(cè)試治具配合WK6500B系列精密阻抗分析儀或者在WK6500P高頻LCR表上使用，最高頻率可達(dá)40MHz。 夾具設(shè)計(jì)用于夾持平面圓盤(pán)狀材料，材料直徑不小于38mm，厚度不大于15mm。 1J1020夾具的兩端電極之間的間距是可調(diào)整的，并通過(guò)千分尺測(cè)量。 頻率范圍：20Hz~40MHz
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